Новости
2025:
17
/06
ОБ УЧАСТИИ «ФОРМ» В ФОРУМЕ "ЭЛЕКТРОННОЕ МАШИНОСТРОЕНИЕ 2025"
16
/06
ОТКРЫТЫЙ ОБМЕН МНЕНИЯМИ НА СЕМИНАРЕ ФОРМ "ВХОДНОЙ КОНТРОЛЬ"
22
/05
ДЕЛИМСЯ СТАТЬЕЙ Н. А. ШЕЛЕПИНА, РУКОВОДИТЕЛЯ НАУЧНОГО НАПРАВЛЕНИЯ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ ИНСТИТУТА НАНОТЕХНОЛОГИЙ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ РАН, ПЕРВОГО ПОКУПАТЕЛЯ ТЕСТЕРА FORMULA® HF3 В 2012 ГОДУ
22
/05
УСПЕШНО ЗАВРЕШЕН 1-Й ЭТАП ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ КРИСТАЛЛОВ IGBT-ТРАНЗИСТОРОВ
20
/05
ФОРМ ОТМЕЧАЕТ ПРОФЕССИОНАЛЬНЫЙ ПРАЗДНИК -ДЕНЬ МЕТРОЛОГИИ
14
/05
ФОРМ ПРИГЛАШАЕТ НА СЕМИНАР ПО ВХОДНОМУ КОНТРОЛЮ 5 ИЮНЯ 2025
06
/05
ГОССТАНДАРТ ОПУБЛИКОВАЛ 3 НОВЫХ ГОСТА ПО МЕТОДИКАМ ХАРАКТЕРИЗАЦИИ ЦАП И АЦП
30
/04
НОВАЯ СТАТЬЯ: FORMULA® TT3. ИСПЫТАНИЯ MOSFET-ТРАНЗИСТОРОВ НА УСТОЙЧИВОСТЬ К ЭНЕРГИИ ЛАВИННОГО ПРОБОЯ
28
/04
ПРОДЛЕН СЕРТИФИКАТ РОССТАНДАРТА НА ТЕСТЕР РЕЛЕ FORMULA® R
23
/04
ИТОГИ УЧАСТИЯ ФОРМ НА ВЫСТАВКЕ EXPOELECTRONICA
21
/04