ФОРМ представит свой новый проект на конференции «СЕРТИФИКАЦИЯ ЭКБ-2017» 5-7 апреля в Санкт-Петербурге

   5-7 апреля в Санкт-Петербурге  ООО «ФОРМ» примет участие в практической конференции «Пути решения задач обеспечения современной радиоэлектронной аппаратуры надежной электронной компонентной базой», «СЕРТИФИКАЦИЯ ЭКБ – 2017», посвященной вопросам стандартизации и обеспечения надежности электронно-компонентной базы. Организатором конференции выступает головная отраслевая организация по стандартизации - АО «Российский НИИ «Электронстандарт» (входит в холдинг «Росэлектроника» Госкорпорации Ростех). 

   В ходе конференции будут обсуждаться проблемы импортозамещения ЭКБ для высоконадежной радиоэлектронной аппаратуры (РЭА), методология выбора и применения ЭКБ отечественного и зарубежного производства для особо надежной РЭА. Представители ФОРМ выступят с докладом "Модульные системы тестирования с открытой архитектурой на базе новейшей российской разработки - стандарта RXI".

   В рамках реализации задач государственной программы РФ «Развитие электронной и радиоэлектронной промышленности на 2013-2025 годы» Компания ФОРМ в июне 2016 г. приступила к разработке и производству модульной Тестовой платформы с открытой архитектурой нового типа и комплектом функциональных, измерительных и программных модулей для метрологического обеспечения испытаний СБИС.

   Мы рады сообщить Вам, что на настоящий момент успешно и в соответствии с плановыми сроками ведется разработка базовой технологии проектирования модульной Тестовой платформы − нового отечественного стандарта RXI с комплектом спецификаций, а так же разработка вспомогательной базовой технологии производства комплекта контактирующих устройств и спутников-носителей.

   Целью выполнения разработки является создание и вывод на рынок в 2021 г. принципиально новой модульной Тестовой платформы с открытой архитектурой нового типа, развиваемым функциональным и метрологическим потенциалом, конкурентоспособную в сегменте зарубежных модульных АТЕ для СБИС.

   Спецификация нового открытого стандарта RXI предусматривает:

• восемь слотов для измерительных модулей;

• системный слот с поддержкой подключения внешней управляющей ЭВМ по интерфейсу PCIe;

• оригинальную систему встроенной межплатной синхронизации;

• максимальное смещение сигналов синхронизации между слотами − не более 20 пс;

• допустимая мощность рассеяния − до 250 Вт на слот;

• программируемые вторичные источники питания, формирующие напряжения в диапазонах, необходимых для питания измерительных модулей, установленных в Тестовой платформе

• охлаждение − воздушное принудительное;

• два варианта системы контактирования − на разъемах и с прижимным устройством;

• пакет программного обеспечения, автоматически настраиваемого под установленные измерительные модули;

• скорость передачи данных не менее 16 GТ/s (миллиардов транзакций в секунду).

   Тестовая платформа предполагает возможность укомплектования следующими измерительными модулями, разработка которых на настоящий момент уже запланирована и ведется:

1. Цифровой многоканальный модуль генератора частот с фазовым шумом не более 400 фс и формируемыми частотами до 1200 МГц для формирования сигналов на тактовых входах микроконтроллеров, ЦАП, АЦП и других микросхем, требующих минимального фазового шума

2. Модуль на 32 универсальных двунаправленных канала с максимальной скоростью приема и передачи данных 800 Мбит/с в диапазоне напряжений от -1,5 В до +6,5 В на входах и выходах микросхем, в том числе, микросхем ЦАП, АЦП, DDR, DDR2, а также параметрического контроля микросхем.

3. Модуль на 32 универсальных двунаправленных канала с максимальной скоростью приема и передачи данных 400 Мбит/с в диапазоне напряжений от -1,5 В до +6,5 В на входах и выходах микросхем, а также параметрического контроля микросхем.

4. Модуль на 16 универсальных двунаправленных высоковольтных канала с максимальной скоростью приема и передачи данных 15 Мбит/с в диапазоне напряжений ±10 В на входах и выходах микросхем, в том числе логики, а также параметрического контроля микросхем.

5. Цифровой многоканальный модуль высоковольтных источников питания в диапазоне ±42 В / 1 А для формирования питания на высоковольтных, в том числе двухполярных объектах контроля и элементах оснастки, а также для параметрического контроля по выводам питания или сигнальных выводах с высоким уровнем напряжения.

6. Цифровой многоканальный модуль низковольтных источников питания в диапазоне 5 В / 20 А для формирования питания на объектах контроля с большим потреблением тока: ядер ПЛИС, микроконтроллеров и иных микросхем, а также параметрического контроля по выводам питания.

7. Блок контроля статических и динамических характеристик преобразования ЦАП/АЦП (включает 3 модуля).

8. Цифровой модуль контроля электрических параметров высокоскоростных интерфейсов (до PCIe2) со скоростями передачи данных до 5 ГБит/с (микроконтроллеры, ПЛИС, современные ЦАП/АЦП).

9. Модуль MUA контроля аналоговых микросхем: операционных усилителей, компараторов и т.д.

10. Цифровой многоканальный модуль для измерения СБИС и ЗУ со скоростью приема и передачи данных 1,066 Гбит/с на канал в диапазоне напряжений от минус 1,5 В до плюс 6,5 В на входах и выходах микросхем, в том числе, микросхем ЦАП, АЦП, DDR, DDR2 и др.

11. Цифровой многоканальный модуль для измерения микросхем памяти со скоростью передачи данных до 2 Гбит/с на канал для контроля современной памяти DDR, DDR2, DDR3, GDDR3, DDR4, GDDR4.

12. Аналоговый модуль дополнительных аналоговых инструментов для выполнения исследовательских работ: осциллограф (до 3 ГГц), вольтметр (до 500 В), измеритель емкости и др.

13. Модуль для обеспечения контроля микросхем, содержащих радио-интерфейс.

14. Модуль низковольтного источника питания с высоким током нагрузки до 3,5 В /100 А для формирования питания на объектах контроля с высоким потреблением тока: ядра ПЛИС, микроконтроллеры и иных микросхемы с током потребления до 100 А.